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美國easyXAFS公司推出的X射線吸收精細結構譜（XAFS/XES），采用*的X射線單色器設計，無需同步輻射光源，在常規(guī)實驗室環(huán)境中實現(xiàn)X射線吸收精細結構測量和分析，提供XAFS和XES兩種測量模式，并輕松相互切換。以*的靈敏度和光源質量，廣泛應用在催化、電池等研究域，實現(xiàn)對元素的測定、定量和價態(tài)分析等。

聚合物薄膜厚度方向熱電性能評價系統(tǒng)-ZEM-d主要測量聚合物薄膜厚度方向上的塞貝克系數(shù)和電阻率，可以測量的樣品薄為10μm。

日本Advance Riko公司推出的納米薄膜熱導率測試系統(tǒng)-TCN-2ω是使用2ω方法測量納米薄膜厚度方向熱導率的商用系統(tǒng)。與其他方法相比，樣品制備和測量為簡單。

石墨烯/二維材料電學性質非接觸快速測量系統(tǒng)-ONYX是款針對石墨烯、半導體薄膜和其他二維材料大面積太赫茲無損表征的測量設備。

激光閃光法熱常數(shù)測量系統(tǒng)-TC-1200RH系統(tǒng)采用符合JIS/ISO標準的激光閃光法測定材料的三個重要熱物理常數(shù)：熱導率（導熱系數(shù)）、熱擴散系數(shù)及比熱容。

低溫雙軸旋轉模塊-atto3DR通過水平固定軸的旋轉，控制樣品表面與外界磁場的傾角（+/- 90°）；而沿面內(nèi)固定軸的旋轉提供了另外+/- 90°的運動，從而實現(xiàn)樣品與磁場形成任意相對方向。