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小型臺(tái)式透射電子顯微鏡

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

LVEM5小型臺(tái)式透射電子顯微鏡從根本上區(qū)別于傳統(tǒng)電鏡，尺寸較傳統(tǒng)電鏡縮小了90%，對(duì)放置環(huán)境無(wú)嚴(yán)格要求，無(wú)需任何外置冷卻設(shè)備，可以安裝用戶所需的任意實(shí)驗(yàn)室或辦公室桌面。

產(chǎn)品型號(hào)：LVEM5

更新時(shí)間：2024-04-18

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

訪問(wèn)量：3156

產(chǎn)品咨詢 13021034795

產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

表面成像分析

磁學(xué)顯微鏡紅外光譜儀顯微鏡干涉儀/位移臺(tái) 殘余應(yīng)力高光譜電鏡近場(chǎng)光學(xué)

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這臺(tái)小型生物透射電鏡，低電壓，無(wú)負(fù)染，方便快捷展現(xiàn)囊泡結(jié)構(gòu)

臺(tái)式電鏡新突破！TEM,SEM,EDS等五種功能于一體，換樣僅2分鐘!

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Delong America Inc. 榮譽(yù)出品

LVEM5臺(tái)式透射電子顯微鏡（Bench-top TEM）

• 小型臺(tái)式透射電子顯微鏡（TEM）

• 多用途臺(tái)式電子顯微鏡

• 透射電鏡（TEM）、電子衍射（ED）、掃描電鏡（SEM）、掃描透射電鏡（STEM）四種成像模式

• 分辨率：1.5nm（TEM）；10nm（SEM）

• Schottky場(chǎng)發(fā)射電子槍：高亮度、高對(duì)比度

• 觀察生物樣品無(wú)需染色

• 體積僅為傳統(tǒng)透射電鏡1/10，操作維護(hù)簡(jiǎn)單

臺(tái)式設(shè)計(jì)：體積小巧，靈活性高，價(jià)格低

傳統(tǒng)透射電子顯微鏡體積龐大，對(duì)放置環(huán)境有著嚴(yán)格的要求，并且需要制冷機(jī)等外置設(shè)備。通常會(huì)占據(jù)整間實(shí)驗(yàn)室。

LVEM5從根本上區(qū)別于傳統(tǒng)電鏡，尺寸較傳統(tǒng)電鏡縮小了90%，對(duì)放置環(huán)境無(wú)嚴(yán)格要求，無(wú)需任何外置冷卻設(shè)備，可以安裝用戶所需的任意實(shí)驗(yàn)室或辦公室桌面。價(jià)格僅為傳統(tǒng)電鏡的1/5，性價(jià)比很高。

Schottky場(chǎng)發(fā)射電子槍：高亮度/高對(duì)比度

電子槍類型是決定電鏡性能的重要參數(shù)。LVEM5采用殊設(shè)計(jì)的倒置肖基（Schottky）場(chǎng)發(fā)射電子槍，提供高亮度高相干的電子束。電子槍使用壽命可達(dá)2000小時(shí)以上。

傳統(tǒng)TEM多采用100kV以上電子束加速電壓，高能電子束不能區(qū)分輕材料中相近的密度和原子序數(shù)，對(duì)于輕元素樣品（C、N、O樣品，生物樣品）難以獲得好的對(duì)比度，影響圖像質(zhì)量。

LVEM5采用5kV低電壓設(shè)計(jì)，低電壓電子束對(duì)密度和原子序數(shù)有很高的靈敏度，對(duì)于小到0.005 g/cm3的密度差別仍能得到很好的圖像對(duì)比度。例如，對(duì)20nm碳膜樣品，5KV電壓下比100KV電壓下對(duì)比度提高10倍以上。而LVEM5的空間分辨率在低電壓下仍能達(dá)到2nm。

未經(jīng)染色的老鼠心臟切片在80kV透射電鏡下得到的圖像，與LVEM5下得到的圖像。

LVEM5采用5kV低加速電壓，圖像具有更好的對(duì)比度

TEM-STEM-ED-SEM 四種成像模式

TEM模式			SEM模式
LVEM5是上的臺(tái)式透射電子顯微鏡，同時(shí)也是的低加速電壓（5kV）透射電鏡。同傳統(tǒng)透射電鏡（80-200kV）相比，增加了電子束與樣品的相互作用，從而提高了圖像對(duì)比度 ? 提高了圖像對(duì)比度 ? 需重金屬染色即可觀察輕元素樣品（如生物樣品） ? 避免染色造成的假象，觀察樣品真實(shí)結(jié)構(gòu) ? 分辨率2nm，放大倍數(shù) 5000-202,000x，圖像采集：2048 x 2048			掃描電鏡（SEM）模式可用于觀察任意固體樣品。在SEM模式下，LVEM5采用4分割背散射探測(cè)器，提供多個(gè)觀測(cè)角度。普通掃描電鏡在觀察不導(dǎo)電樣品時(shí)，需要對(duì)樣品進(jìn)行噴金、噴碳處理，以增加樣品導(dǎo)電性。LVEM5的另點(diǎn)在于，無(wú)需噴金可直接觀測(cè)不導(dǎo)電樣品。分辨率3nm，放大倍數(shù) 640x - 1,000,000x，圖像采集：2048 x 2048
STEM模式			ED模式
在掃描透射電子顯微（STEM）模式下，電子束被聚焦到很小直徑，在樣品上進(jìn)行掃描?？捎糜谟^察厚度較厚的樣品或染色樣品			電子衍射（ED）可用于確定樣品的晶體結(jié)構(gòu)、結(jié)晶度、相組成。